inLux™ SEM Raman interfész
Univerzális megoldás az in situ SEM Raman-elemzéshez
Az innovatív inLux™ SEM Raman interfész kiváló minőségű Raman-funkciókkal bővíti a SEM-kamrát. Mostantól olyan Raman-spektrumokat is gyűjthet, amelyekkel 2D-s és 3D-s képeket hozhat létre, miközben az SEM-ben párhuzamosan folyik a képalkotás. A minta a SEM-képalkotás és a Raman-adatgyűjtési módok között statikus marad, így a Raman- és az SEM-képek összehasonlításakor biztosítható a pontos együttállás.
Az inLux interfész a Raman-funkciók átfogó választékát kínálja. Spektrumokat gyűjthet egyetlen pontról, több pontról, illetve 2D-s és 3D-s konfokális Raman-képeket is készíthet. Az inLux interfész alapfelszereltségként mindennel el van látva ezekhez a feladatokhoz, így mindkét tengelyen lehetővé teszi a 0,5 mm-nél nagyobb területek elemzését. 50 nm-es alsó határig teljesen kódolt pozícióvezérléssel rendelkezik, biztosítva a pontos Raman-képalkotást.
Főbb előnyök
- Információgazdag – a Raman, fotolumineszcencia (PL) és spektrális katodolumineszcencia (CL) elemzés egyidejűleg, valamint az SEM képalkotással egy helyen történik.
- Univerzális – az inLux interfész a különböző gyártóktól származó, különböző méretű kamrákkal rendelkező SEM-ek széles skálájára felszerelhető, ráadásul az SEM módosítása nélkül.
- Nem invazív – az inLux mérőfej egyetlen kattintással teljesen behúzható. Ez biztosítja, hogy a használaton kívüli mérőfej ne zavarja az SEM egyéb funkcióit vagy munkafolyamatait.
- Eloszlás meghatározása – a konfokális Raman-képek standardként készíthetők el, lehetővé téve a minta heterogenitásának egyszerű mérését.
- Minta megtekintése – nagy felületű optikai képalkotás és montírozás a minta vizualizálásához és az elemzendő területek megcélzásához.
- Konfigurálható – akár két különböző gerjesztési lézerhullámhossz, valamint opcionális CL-modul.
- Automatizált – a lézer hullámhossza egy kattintással módosítható a nagyobb kihívást jelentő minták Raman-elemzéséhez.
Az inLux interfész alkalmazásai
Szennyeződések azonosítása
A Raman-spektroszkópia egy érintésmentes és roncsolásmentes eljárás, amely rendkívül specifikus kémiai adatokat kínál, így ideális a szennyeződések azonosítására. A Raman-spektroszkópia különösen hatékony módszer a szén és a szerves szennyeződések elemzéséhez, amelyeket elemi vizsgálattal nehéz lenne megkülönböztetni. Az SEM alkalmas az optikai mikroszkópokkal ki nem vehető kis szennyező részecskék morfológiájának beazonosítására és tanulmányozására. Ezt követően a részecskéket az inLux interfész segítségével közvetlenül meg lehet célozni a Raman-elemzéshez anélkül, hogy a mintát mozgatni kellene.
Anyagelemzés
Az anyagok több újszerű tulajdonsága is a méretükből, alakjukból vagy vastagságukból ered. A grafén, a nanorudak és a nanocsövek esetén például a pásztázó elektronmikroszkópok erős nagyítása elengedhetetlen a minta láthatóvá tételéhez. A Raman-elemzés az anyag kémiai és szerkezeti jellegének felfedése mellett a fizikai tulajdonságokról is információt adhat. Az inLux interfész képes olyan Raman-képeket készíteni, amelyek jól szemléltetik a kristályosságot, a deformációkat és az elektronikus tulajdonságokat, és amelyek összevethetők az SEM-felvételek eredményeivel.
Csatlakoztatás különböző Renishaw Raman-rendszerekhez
Az inLux interfész a Renishaw kutatási célú Raman spektrométereivel és szoftverével együtt használható. A rendszer átfogó feldolgozási és elemzési lehetőségeket biztosít, miközben intuitív módon, egyszerűen használható. Az inLux interfész segítségével az ipari szennyeződések azonosításától a tudományos kutatásig a legtöbbet hozhatja ki az SEM-ből.
Virsa™ Raman-analizátor
A dedikált Raman-elemzés érdekében az inLux interfész csatlakoztatható a Virsa Raman-analizátorhoz. A Virsa analizátor kompakt és költséghatékony megoldást kínál az SEM-ben történő Raman-elemzéshez a kutatási minőségű Raman-rendszertől elvárt nagy érzékenységgel és spektrális felbontással, egy rackbe szerelt házban.
Tudjon meg többet a Virsa analizátorról
inVia™ konfokális Raman-mikroszkóp
Csatlakoztassa az inLux interfészt az inVia konfokális Raman-mikroszkóphoz, és kombinálja az SEM-ben történő elemzést a világ legnépszerűbb, kutatási célú Raman-mikroszkópjával. Az inVia mikroszkóp világviszonylatban is kiemelkedő teljesítményt és érzékenységet kínál a lézergerjesztési hullámhosszok, detektorok és rácsok konfigurálható tartományában. Ideális bármilyen Raman-aktív anyag elemzéséhez. Az inVia mikroszkóp önállóan is használható Raman-elemzésre. Az SEM így más felhasználók rendelkezésére állhat, amikor nincs szükség in situ (alkalmazási környezetben történő) mérésekre.
Tudjon meg többet az inVia Raman mikroszkóprólTöbbet szeretne megtudni?
Helyi képviselőnk örömmel segít kérdései megválaszolásában.
Képviselőnkkel egy űrlapot kitöltve vagy e-mail útján léphet kapcsolatba.
A legfrissebb hírek
Maradjon naprakész legújabb innovációinkkal, híreinkkel, alkalmazásainkkal és induló termékeinkkel kapcsolatban; legfrissebb híreink közvetlenül a postaládájába érkezhetnek.
Letöltések: inLux SEM Raman interfész
-
Brochure: inLux™ scanning electron microscope Raman interface [en]
The innovative inLux SEM Raman interface brings high-quality Raman functionality to your SEM chamber. Now you can collect Raman spectra that can produce images in 2D and 3D whilst simultaneously imaging in SEM.
Specifikációk
| Paraméterek | Érték |
| Tömeg | < 20 kg |
| Optikai kábel hossza | 4,6 m |
| Kompatibilis Raman spektrométerek | Renishaw inVia konfokális Raman-mikroszkóp, Renishaw Virsa analizátor |
| Kompatibilis SEM-modellek | Kompatibilis az összes nagyobb SEM-beszállító modelljével |
| SEM-portra vonatkozó követelmény | Szabad oldalsó vagy hátsó SEM-port |
| SEM-teljesítmény | Az inLux interfészhez nem kell módosítani az SEM-et, és használaton kívül teljesen behúzható, így sem az SEM, sem más tartozékok működését nem zavarja. |
| Mozgásvezérlés | Trackpad, WiRE szoftver |
| Érintésvédelem | Érintésérzékelő, biztonságos munkatérfogat abszolút útmérőkkel felügyelve |
| Lézerbiztonság | Vákuumkamrával kényszerkapcsolt lézer |
| Raman-leképezés/-képalkotás | Alapfelszereltség |
| Száloptikai modulok kínálata | Akár két különböző lézergerjesztési hullámhossz + opcionális katodolumineszcens modul |
| Elérhető lézergerjesztési hullámhosszok | 405 nm, 532 nm, 660 nm, 785 nm (továbbiak kérésre érhetők el) |
| Lézerváltás | Automatizált, motorizált és szoftveresen vezérelt |
| Oldalirányú térbeli felbontás | < 1 µm 532 nm esetén |
| Konfokális teljesítmény | < 6 µm 532 nm esetén |
| Spektrális felbontás | Lásd a spektrométer adatlapját |
| Méretek | 804 mm (Sz), 257 mm (Ma), 215 mm (Mé) |