inLux™ SEM Raman interfész
Univerzális megoldás a helyszíni SEM Raman-elemzéshez
Az innovatív inLux™ SEM Raman interfész kiváló minőségű Raman-funkciókkal bővíti a pásztázó elektronmikroszkóp (SEM) kamrát. Mostantól olyan Raman-spektrumokat is gyűjthet, amelyekkel 2D-s és 3D-s képeket hozhat létre, miközben az SEM-ben párhuzamosan folyik a képalkotás. A minta az SEM-képalkotás és a Raman-adatgyűjtési módok között statikus marad, így a Raman- és az SEM-képek összehasonlításakor biztosítható a pontos együttállás.
Az inLux interfész a Raman-funkciók átfogó választékát kínálja. Spektrumokat gyűjthet egyetlen pontról, több pontról, illetve 2D-s és 3D-s konfokális Raman-képeket is készíthet. Az inLux interfész alapfelszereltségként mindennel el van látva ezekhez a feladatokhoz, így mindkét tengelyen lehetővé teszi a 0,5 mm-nél nagyobb területek elemzését. 50 nm-es alsó határig teljesen kódolt pozícióvezérléssel rendelkezik, biztosítva a pontos Raman-képalkotást.
Főbb előnyök
- Információgazdag - a Raman, fotolumineszcencia (PL) és spektrális katodolumineszcencia (CL) elemzés egyidejűleg, valamint az SEM képalkotással egy helyen történik.
- Univerzális - az inLux interfész a különböző gyártóktól származó, különböző méretű kamrákkal rendelkező SEM-ek széles skálájára felszerelhető, ráadásul az SEM módosítása nélkül.
- Nem invazív - az inLux mérőfej egyetlen kattintással teljesen behúzható. Ez biztosítja, hogy a használaton kívüli mérőfej ne zavarja az SEM egyéb funkcióit vagy munkafolyamatait.
- Eloszlás meghatározása - a konfokális Raman-képek standardként készíthetők el, lehetővé téve a minta heterogenitásának egyszerű mérését.
- Minta megtekintése - nagy felületű optikai képalkotás és montírozás a minta vizualizálásához és az elemzendő területek megcélzásához.
- Konfigurálható - akár két különböző gerjesztési lézerhullámhossz, valamint opcionális CL-modul.
- Automatizált - a lézer hullámhossza egy kattintással módosítható a nagyobb kihívást jelentő minták Raman-elemzéséhez.
Az inLux interfész alkalmazásai
Szennyeződések azonosítása
A Raman-spektroszkópia egy érintésmentes és roncsolásmentes eljárás, amely rendkívül specifikus kémiai adatokat kínál, így ideális a szennyeződések azonosítására. A Raman-spektroszkópia különösen hatékony módszer a szén és a szerves szennyeződések elemzéséhez, amelyeket elemi vizsgálattal nehéz lenne megkülönböztetni. Az SEM alkalmas az optikai mikroszkópokkal ki nem vehető kis szennyező részecskék morfológiájának beazonosítására és tanulmányozására. Ezt követően a részecskéket az inLux interfész segítségével közvetlenül meg lehet célozni a Raman-elemzéshez anélkül, hogy a mintát mozgatni kellene.
Anyagelemzés
Az anyagok több újszerű tulajdonsága is a méretükből, alakjukból vagy vastagságukból ered. A grafén, a nanorudak és a nanocsövek esetén például a pásztázó elektronmikroszkópok erős nagyítása elengedhetetlen a minta láthatóvá tételéhez. A Raman-elemzés az anyag kémiai és szerkezeti jellegének felfedése mellett a fizikai tulajdonságokról is információt adhat. Az inLux interfész képes olyan Raman-képeket készíteni, amelyek jól szemléltetik a kristályosságot, a deformációkat és az elektronikus tulajdonságokat, és amelyek összevethetők az SEM-felvételek eredményeivel.
Csatlakoztatás különböző Renishaw Raman-rendszerekhez
Az inLux interfész a Renishaw kutatási célú Raman spektrométereivel és szoftverével együtt használható. Ezáltal a rendszer átfogó feldolgozási és elemzési lehetőségeket biztosít, miközben intuitív módon, egyszerűen használható. Az inLux interfész segítségével az ipari szennyeződések azonosításától a tudományos kutatásig a legtöbbet hozhatja ki az SEM-ből.
Virsa™ Raman-analizátor
A dedikált Raman-elemzés érdekében az inLux interfész csatlakoztatható a Virsa Raman-analizátorhoz. A Virsa analizátor kompakt és költséghatékony megoldást kínál az SEM-ben történő Raman-elemzéshez a kutatási minőségű Raman-rendszertől elvárt nagy érzékenységgel és spektrális felbontással, egy állványba szerelt házban.
Tudjon meg többet a Virsa analizátorról
inVia™ konfokális Raman-mikroszkóp
Csatlakoztassa az inLux interfészt az inVia konfokális Raman-mikroszkóphoz, és kombinálja az SEM-ben történő elemzést a világ legnépszerűbb, kutatási célú Raman-mikroszkópjával. Az inVia mikroszkóp világviszonylatban is kiemelkedő teljesítményt és érzékenységet kínál a lézergerjesztési hullámhosszok, detektorok és rácsok konfigurálható tartományában. Ideális bármilyen Raman-aktív anyag elemzéséhez. Az inVia mikroszkóp önállóan is használható Raman-elemzésre. Az SEM így más felhasználók rendelkezésére állhat, amikor nincs szükség alkalmazási környezetben történő mérésekre.
Tudjon meg többet az inVia Raman mikroszkóprólTovábbi információk
Mondja el, milyen SEM-konfigurációt használ, hogy megtudja, pásztázó elektronmikroszkópja kompatibilis-e az inLux SEM Raman interfésszel. Töltse ki a rövid űrlapot az alábbi linkre kattintva, és szakértőnk felveszi Önnel a kapcsolatot.
Regisztráljon most, és nézze meg a teljes igény szerint összeállított webináriumot
Letöltések: inLux SEM Raman interfész
-
Brochure: inLux™ scanning electron microscope Raman interface [en]
The innovative inLux SEM Raman interface brings high-quality Raman functionality to your SEM chamber. Now you can collect Raman spectra that can produce images in 2D and 3D whilst simultaneously imaging in SEM.
Műszaki adatok
| Paraméterek | Érték |
| Tömeg | < 20 kg |
| Optikai kábel hossza | 4,6 m |
| Kompatibilis Raman-spektrométerek | Renishaw inVia konfokális Raman-mikroszkóp, Renishaw Virsa analizátor |
| Kompatibilis SEM modellek | Kompatibilis az összes nagyobb SEM gyártó modelljével |
| SEM-portra vonatkozó követelmény | Szabad oldalsó vagy hátsó SEM-port |
| SEM-teljesítmény | Az inLux interfészhez nem kell módosítani az SEM-et, és használaton kívül teljesen behúzható, így sem az SEM, sem más tartozékok működését nem zavarja |
| Mozgásvezérlés | Trackpad, WiRE szoftver |
| Érintésvédelem | Érintésérzékelő, biztonságos munkatérfogat abszolút útmérőkkel felügyelve |
| Lézerbiztonság | Vákuumkamrával kényszerkapcsolt lézer |
| Raman-leképezés/-képalkotás | Alapfelszereltség |
| Száloptikai modulok kínálata | Akár két különböző lézergerjesztési hullámhossz + opcionális katodolumineszcens modul |
| Elérhető lézergerjesztési hullámhosszok | 405 nm, 532 nm, 660 nm, 785 nm (más hullámhosszok külön kérésre) |
| Lézerváltás | Automatizált, motorizált és szoftveresen vezérelt |
| Oldalirányú térbeli felbontás | < 1 µm 532 nm-en |
| Konfokális teljesítmény | < 6 µm 532 nm-en |
| Spektrális felbontás | Lásd a spektrométer adatlapját |
| Méretek | Sz 804 mm x Ma 257 mm x Mé 215 mm |