inLux™ SEM Raman interfész

Univerzális megoldás az in situ SEM Raman-elemzéshez

Az innovatív inLux™ SEM Raman interfész kiváló minőségű Raman-funkciókkal bővíti a SEM-kamrát. Mostantól olyan Raman-spektrumokat is gyűjthet, amelyekkel 2D-s és 3D-s képeket hozhat létre, miközben az SEM-ben párhuzamosan folyik a képalkotás. A minta a SEM-képalkotás és a Raman-adatgyűjtési módok között statikus marad, így a Raman- és az SEM-képek összehasonlításakor biztosítható a pontos együttállás.

Az inLux interfész a Raman-funkciók átfogó választékát kínálja. Spektrumokat gyűjthet egyetlen pontról, több pontról, illetve 2D-s és 3D-s konfokális Raman-képeket is készíthet. Az inLux interfész alapfelszereltségként mindennel el van látva ezekhez a feladatokhoz, így mindkét tengelyen lehetővé teszi a 0,5 mm-nél nagyobb területek elemzését. 50 nm-es alsó határig teljesen kódolt pozícióvezérléssel rendelkezik, biztosítva a pontos Raman-képalkotást.

Kapcsolat

inLux SEM Raman interfész

Főbb előnyök

  • Információgazdag – a Raman, fotolumineszcencia (PL) és spektrális katodolumineszcencia (CL) elemzés egyidejűleg, valamint az SEM képalkotással egy helyen történik.
  • Univerzális – az inLux interfész a különböző gyártóktól származó, különböző méretű kamrákkal rendelkező SEM-ek széles skálájára felszerelhető, ráadásul az SEM módosítása nélkül.
  • Nem invazív – az inLux mérőfej egyetlen kattintással teljesen behúzható. Ez biztosítja, hogy a használaton kívüli mérőfej ne zavarja az SEM egyéb funkcióit vagy munkafolyamatait.
  • Eloszlás meghatározása – a konfokális Raman-képek standardként készíthetők el, lehetővé téve a minta heterogenitásának egyszerű mérését.
  • Minta megtekintése – nagy felületű optikai képalkotás és montírozás a minta vizualizálásához és az elemzendő területek megcélzásához.
  • Konfigurálható – akár két különböző gerjesztési lézerhullámhossz, valamint opcionális CL-modul.
  • Automatizált – a lézer hullámhossza egy kattintással módosítható a nagyobb kihívást jelentő minták Raman-elemzéséhez.

Az inLux interfész alkalmazásai

SEM-kép egy üzemanyag-befecskendezőn lévő szennyeződésről

Szennyeződések azonosítása

A Raman-spektroszkópia egy érintésmentes és roncsolásmentes eljárás, amely rendkívül specifikus kémiai adatokat kínál, így ideális a szennyeződések azonosítására. A Raman-spektroszkópia különösen hatékony módszer a szén és a szerves szennyeződések elemzéséhez, amelyeket elemi vizsgálattal nehéz lenne megkülönböztetni. Az SEM alkalmas az optikai mikroszkópokkal ki nem vehető kis szennyező részecskék morfológiájának beazonosítására és tanulmányozására. Ezt követően a részecskéket az inLux interfész segítségével közvetlenül meg lehet célozni a Raman-elemzéshez anélkül, hogy a mintát mozgatni kellene.

További információ a szennyező anyagokról

Átfedéses SEM Raman-kép egy azonosítókártyáról

Anyagelemzés

Az anyagok több újszerű tulajdonsága is a méretükből, alakjukból vagy vastagságukból ered. A grafén, a nanorudak és a nanocsövek esetén például a pásztázó elektronmikroszkópok erős nagyítása elengedhetetlen a minta láthatóvá tételéhez. A Raman-elemzés az anyag kémiai és szerkezeti jellegének felfedése mellett a fizikai tulajdonságokról is információt adhat. Az inLux interfész képes olyan Raman-képeket készíteni, amelyek jól szemléltetik a kristályosságot, a deformációkat és az elektronikus tulajdonságokat, és amelyek összevethetők az SEM-felvételek eredményeivel.

További információ az anyagokról

Csatlakoztatás különböző Renishaw Raman-rendszerekhez

Az inLux interfész a Renishaw kutatási célú Raman spektrométereivel és szoftverével együtt használható. A rendszer átfogó feldolgozási és elemzési lehetőségeket biztosít, miközben intuitív módon, egyszerűen használható. Az inLux interfész segítségével az ipari szennyeződések azonosításától a tudományos kutatásig a legtöbbet hozhatja ki az SEM-ből.

Virsa Raman-analizátor

Virsa™ Raman-analizátor

A dedikált Raman-elemzés érdekében az inLux interfész csatlakoztatható a Virsa Raman-analizátorhoz. A Virsa analizátor kompakt és költséghatékony megoldást kínál az SEM-ben történő Raman-elemzéshez a kutatási minőségű Raman-rendszertől elvárt nagy érzékenységgel és spektrális felbontással, egy rackbe szerelt házban.

Tudjon meg többet a Virsa analizátorról
inVia Qontor Raman-mikroszkóp

inVia™ konfokális Raman-mikroszkóp

Csatlakoztassa az inLux interfészt az inVia konfokális Raman-mikroszkóphoz, és kombinálja az SEM-ben történő elemzést a világ legnépszerűbb, kutatási célú Raman-mikroszkópjával. Az inVia mikroszkóp világviszonylatban is kiemelkedő teljesítményt és érzékenységet kínál a lézergerjesztési hullámhosszok, detektorok és rácsok konfigurálható tartományában. Ideális bármilyen Raman-aktív anyag elemzéséhez. Az inVia mikroszkóp önállóan is használható Raman-elemzésre. Az SEM így más felhasználók rendelkezésére állhat, amikor nincs szükség in situ (alkalmazási környezetben történő) mérésekre.

Tudjon meg többet az inVia Raman mikroszkópról

Többet szeretne megtudni?

Helyi képviselőnk örömmel segít kérdései megválaszolásában.
Képviselőnkkel egy űrlapot kitöltve vagy e-mail útján léphet kapcsolatba.

Kapcsolat

A legfrissebb hírek

Maradjon naprakész legújabb innovációinkkal, híreinkkel, alkalmazásainkkal és induló termékeinkkel kapcsolatban; legfrissebb híreink közvetlenül a postaládájába érkezhetnek.

Feliratkozás

Letöltések: inLux SEM Raman interfész

Specifikációk

ParaméterekÉrték
Tömeg< 20 kg
Optikai kábel hossza4,6 m
Kompatibilis Raman spektrométerekRenishaw inVia konfokális Raman-mikroszkóp, Renishaw Virsa analizátor
Kompatibilis SEM-modellekKompatibilis az összes nagyobb SEM-beszállító modelljével
SEM-portra vonatkozó követelménySzabad oldalsó vagy hátsó SEM-port
SEM-teljesítményAz inLux interfészhez nem kell módosítani az SEM-et, és használaton kívül teljesen behúzható, így sem az SEM, sem más tartozékok működését nem zavarja.
MozgásvezérlésTrackpad, WiRE szoftver
ÉrintésvédelemÉrintésérzékelő, biztonságos munkatérfogat abszolút útmérőkkel felügyelve
LézerbiztonságVákuumkamrával kényszerkapcsolt lézer
Raman-leképezés/-képalkotásAlapfelszereltség
Száloptikai modulok kínálataAkár két különböző lézergerjesztési hullámhossz + opcionális katodolumineszcens modul
Elérhető lézergerjesztési hullámhosszok405 nm, 532 nm, 660 nm, 785 nm (továbbiak kérésre érhetők el)
LézerváltásAutomatizált, motorizált és szoftveresen vezérelt
Oldalirányú térbeli felbontás< 1 µm 532 nm esetén
Konfokális teljesítmény< 6 µm 532 nm esetén
Spektrális felbontásLásd a spektrométer adatlapját
Méretek804 mm (Sz), 257 mm (Ma), 215 mm (Mé)