Flyer: Calibration and capability artefacts for SFP2 surface finish probe (pdf)

Fájlméret: 606 kB Idioma: English Cikkszám: H-1000-2500

Surface finish measurement has traditionally involved the use of hand-held sensors or has required the part to be moved onto a costly dedicated measuring machine. The SFP2 probe for the REVO® 5-axis system changes all this, making surface finish inspection an integral part of CMM measurement, enabling the automatic switching between scanning, optical non-contact and surface finish measurement probe types.

Ehhez a fájltípushoz megtekintő programra van szükség, amely ingyenesen szerezhető be itt Adobe

További nyelvek

中文(繁體)

Nem találta, amit keresett?

mondja el, hogy mit nem talált meg, és mindent megteszünk, hogy segítsünk