Hibrid Raman rendszerek
Fokozza Renishaw Raman-mikroszkópja képességeit úgy, hogy összekapcsolja más analitikai rendszerekkel, amire számos különféle gyártó esetében lehetőség van.
A Renishaw korrelációs mikroszkópos rendszereivel biztos lehet benne, hogy mindkét technikával ugyanazt a pontot elemzi.
Kapcsolat
SPM/AFM: Nanométeres felbontás
Kombinálja az inVia™ Raman-mikroszkópot pásztázó szondás mikroszkóppal (SPM), pl. atomerő-mikroszkóppal (AFM) a különféle anyagok kémiai és szerkezeti tulajdonságainak vizsgálatához. Bővítse a berendezés képességeit nanométeres kémiai felbontással a tűerősített Raman-spektroszkópia (TERS) révén, és ismerjen meg további jellemzőket, pl. mechanikai tulajdonságokat.
Nano-indentációs keménységmérés: mechanikai tulajdonságmérés
Ötvözze az inVia Raman-mikroszkóp teljesítményét a nano-indentációs keménységméréssel, és állapítson meg közvetlen összefüggést a mechanikai és tribológiai tulajdonságok és az olyan kémiai információk között, mint például a kristályosság, polimorfizmus, fázis és feszültség/alakváltozás.
Olvassa el a Microscopy and Analysis Journal folyóiratban megjelent cikket
-
Correlative SPM Raman and SEM analysis of biomedical devices and coatings [en]
A variety of medical implants and microelectrode arrays for electrophysiology are fabricated in thin film and micro technology. To guarantee the quality, proper functionality and safe operation of these devices, analytical techniques to investigate the structure and chemical composition of surfaces and interfaces during the fabrication process and for final quality control are essential.
Szeretne többet megtudni?
Helyi képviselőnk örömmel segít kérdései megválaszolásában.
Képviselőnkkel az űrlapot kitöltve vagy e-mail útján léphet kapcsolatba.
Értesüljön a legújabb frissítésekről
Legyen naprakész a legfrissebb híreinkkel, webináriumainkkal, alkalmazási jegyzeteinkkel és termékbemutatóinkkal, amelyeket közvetlenül a postaládájába küldünk.