inVia™ konfokális Raman-mikroszkóp

Az alapvető, kutatási minőségű, konfokális Raman-mikroszkóp rendkívüli teljesítményt és a legjobb adatokat biztosítja a legrövidebb idő alatt.

Több mint két évtizeden keresztül tervezték, fejlesztették és finomították, hogy a legmegbízhatóbb Raman-műszer legyen a piacon. Az inVia™ Raman-mikroszkóp az alapvető, kutatási minőségű Raman-mikroszkóp az aktuális és jövőbeli igényeihez.

Bár kezelése egyszerű, mégis kiváló teljesítményt és megbízható eredményeket garantál még a legnagyobb kihívást jelentő kísérleteknél is. Segítségével részletgazdag kémiai képeket készíthet, és pontosan behatárolt adatkészleteket gyűjthet diszkrét pontokból. Páratlanul rugalmas használhatósága révén a világon számos kutató és mérnök szavazott már bizalmat az inVia mikroszkópnak.

Kapcsolat

Adatok elemzése az inVia berendezésből

Funkciók

Az inVia mikroszkóp egy kutatási minőségű mikroszkópot tartalmaz egy magas teljesítményű Raman spektrométerhez kapcsolva. Könnyű működtetni, azonban rendkívüli teljesítményt nyújt – magas jelátviteli sebesség magas spektrális felbontással és stabilitással kombinálva –, megbízható eredményeket biztosít még a leginkább kihívást jelentő mérések esetén is.

Az inVia mikroszkóp igen hatásos optikai tervezése a legjobb Raman adatokat biztosítja, még anyagmaradványokból is. Ha könnyen és megbízhatóan szeretne gazdag, részletes kémiai képeket és igen specifikus adatokat készíteni diszkrét pontokból, akkor az inVia mikroszkóp az ideális rendszer Önnek.

Részletesebb információkért töltse le az inVia mikroszkóp tájékoztatóját.

Letöltés

inVia Raman mikroszkóp objektívlencse

Gyorsaság és szenzitivitás

A magas szenzitivitás lehetővé teszi a gyenge Raman jelek megtekintését, valamint a gyors elemzést akár anyagmaradványokból, monorétegekből és gyenge szórványokból is. Egy megjelölt, tengely menti optikai tervezést használ, amely magas optikai hatásosságot, a szórt fény kitűnő elvetését és példátlan szenzitivitást biztosít.

Vulkanikus kő Raman-képe

Magas térbeli felbontás

Az optikai tervezés lehetővé teszi, hogy nagyon magas szintű konfokalitást érjen el (a vizsgálandó pontoktól távoli régiókból származó jel elvetésének képessége). Ez biztosítja a magas stabilitás elérését és a lehető legnagyobb térbeli felbontást, amelyet kizárólag a fény velejáró elhajlása korlátoz.

inVia Raman mikroszkóp objektívlencse

Magas spektrális teljesítmény

Képes meghatározni a 0,5 cm-1-nél keskenyebb spektrális funkciókat, így el tudja különíteni a Raman-sávokat és az olyan nagyon hasonló anyagokat, mint a gyógyszerészeti polimorfok. A magas stabilitás lehetővé teszi a Raman-sáv pozíciójában bekövetkező kis elmozdulások monitorozását (akár 0,02 cm-1).

inVia Qontor Raman-mikroszkóp

Rendkívüli stabilitás

Egy egyedi tervezésű méhsejt alaplemez a helyén tartja az inVia mikroszkópot és a lézereket, és ez olyan stabil, hogy általában nincs szükség optikai vagy rezgéscsillapító asztalra. A fő mozgatási alkatrészek Renishaw nagy pontosságú kódolókkal vannak felszerelve, ami biztosítja mindennek a megfelelő elhelyezését.

inVia környezeti és mintavételi kiegészítők

Spektrális rugalmasság

Úgy konfigurálhatja az inVia mikroszkópot, hogy ideális legyen az adott mintái elemzéséhez. Többféle lézert támogat automatizált, számítógép által vezérelt kapcsolással. Gyorsan megváltoztathatja a gerjesztési hullámhosszt, és gyorsan meghatározhatja a legjobb konfigurációkat, hogy minden mintájából megbízható adatokat kapjon.

Magas hőmérsékleti fokozat az inVia rendszerrel

Mintavételi rugalmasság

Az inVia támogatja a kutatási minőségű függőleges, fordított és nyitott keretes mikroszkópokat, valamint a száloptikás szondákat is hosszú távú, távoli elemzéshez. Számos objektívlencsével és környezeti cellával kompatibilis, ami lehetővé teszi, hogy mintáit számos környezeti körülmény mellett elemezze.

Alkalmazások

Raman-kép egy tablettáról

Gyógyszerek vizsgálata

Sok alkatrész és tulajdonság esetén az összetétel, a doménméret és a lejárt szabadalmú, kereskedelmi forgalomban kapható formulációk eloszlásának meghatározása rendkívül kívánatos. Az inVia mikroszkóp rendkívüli kémiai specificitást és szenzitivitást biztosít, részletes kémiai képeket generál számos formuláción.

Alkalmazási tájékoztató letöltése

Raman-kép egy polimerről

Polimerek vizsgálata

Az inVia Raman-mikroszkóp kémiai specificitást és szenzitivitást biztosít roncsolásmentes módon, a minta manipulálásának és előkészítésének szükségessége nélkül. Ez fontos a polimerek vizsgálatában, ugyanis új anyagokat keresünk, javítjuk a meglévő anyagok hatásosságát, és csökkentjük a termékek költségeit.

Alkalmazási tájékoztató letöltése

Tartsa meg a fókuszt valós
időben a LiveTrack funkcióval

Az inVia mikroszkóp analizátor LiveTrack™ automatizált fókuszkövető technológiát használ, hogy valós idejű, pontos és megismételhető spektrumot és topográfiát kapjon a mintákból átfogó magasságbeli variációkkal. Alkosson lenyűgöző 3D-s képeket egyenetlen, görbe vagy érdes felszínekről előzetes szkennelés szükségessége nélkül. Nézze meg a videót egy példáért.

Többet szeretne megtudni?

Helyi képviselőnk örömmel segít kérdései megválaszolásában.
Képviselőnkkel egy űrlapot kitöltve vagy e-mail útján léphet kapcsolatba.

Kapcsolat

A legfrissebb hírek

Legyen naprakész legújabb innovációinkkal, híreinkkel, alkalmazásainkkal és induló termékeinkkel kapcsolatban; legfrissebb híreink közvetlenül a postaládájába érkezhetnek.

Feliratkozás

Letöltések: inVia Raman-mikroszkóp

Specifikációk

Az inVia mikroszkóp három modellben áll rendelkezésre; a típus zászlóshajóját képező, teljesen automatizált és fókuszkövetési technológiával ellátott inVia Qontortól a belépő szintű inVia Basis rendszerig.

Paraméter

Érték
Hullámhossztartomány200 nm – 2200 nm
Támogatott lézerek229 nm–1064 nm
Spektrális felbontás0,3 cm-1 (FWHM)
Általában szükséges legmagasabb: 1 cm-1
Stabilitás< ±0,01 cm-1A görbére illesztett Si 520 cm-1 sáv középfrekvencia variációi, ismételt mérések után. 1 cm-1 vagy nagyobb spektrális felbontással archiválva
Alacsony hullámszám levágási érték5 cm-1Általában szükséges legalacsonyabb: 100 cm-1
Magas hullámszám levágási érték30 000 cm-1Standard: 4 000 cm-1
Térbeli felbontás (laterális)0,25 µmStandard: 1 µm
Térbeli felbontás (axiális)< 1 µmStandard: < 2 µm. Az objektív és a lézer függvénye
Detektorméret (standard)1024 pixel × 256 pixelEgyéb elérhető opciók
Detektor működési hőmérséklet–70 °C
Támogatott Rayleigh szűrőkKorlátlanAkár négy szűrőkészlet automatikus rögzítésnél. Korlátlan további szűrőkészletek, amelyeket a felhasználó által kapcsolható, pontosan lokalizáló kinematikus rögzítők támogatnak
Támogatott lézerek számaKorlátlanStandardként egy. A 4 lézeren túli további lézereket optikai asztalra kell rögzíteni
Windows PC által vezéreltLegutóbbi előírás Windows® PCTartalmazza a PC munkaállomást, a monitort, a billentyűzetet és a trackballt
Tápfeszültség110 V AC – 240 V AC +10% -15%
Tápfrekvencia50 Hz vagy 60 Hz
Általános energiafogyasztás (spektrométer)150 W
Mélység (kettős lézerrendszerek)930 mmKettős lézer alaplemez
Mélység (tripla lézerrendszerek)1116 mmTripla lézer alaplemez
Mélység (kompakt)610 mmAkár három lézer (a lézertípustól függően)
Általános tömeg (a lézerek nélkül)90 kg

Minta megtekintés

inVia BasisinVia ReflexinVia Qontor
Sztereo megtekintés (binokuláris mikroszkópok)
Tárolt és automatikus gyűjtést követő megtekintés-
Szoftveres mikroszkópvezérlés-
Automatikus fehér fény/Raman váltás-
Automatikus fehér fény mentés adatokkal-
Kombinált fehér fényű és lézeres videó megtekintés-
Fehér fényű automatikus fókusz (LiveTrack)--

Raman adatgyűjtés

inVia BasisinVia ReflexinVia Qontor
Mérések automatizált sorbaállítása
Automatikus fókuszkövetés (LiveTrack)--

Beállítás és teljesítményellenőrzés

inVia BasisinVia ReflexinVia Qontor
Belső neon hullámhossz kalibrációs forrás-
Belső referencia etalonok önkalibráláshoz-
Automatikus Raman kalibrálás korrekció (gyors kalibrálás)
Lézeres automatikus beállítás
Raman jelalapú automatikus beállítás
Teljesítmény-ellenőrzés-

Jelmagyarázat

- nem elérhető■ opció▲ tartalmazza