Hibrid Raman rendszerek

Fokozza Renishaw Raman-mikroszkópja képességeit úgy, hogy összekapcsolja más analitikai rendszerekkel, amire számos különféle gyártó esetében lehetőség van.

A maximális hatékonyság érdekében a mintát két- vagy többféle technikával elemezheti anélkül, hogy át kellene helyezni egy másik műszerre.

A Renishaw korrelációs mikroszkópos rendszereivel biztos lehet benne, hogy mindkét technikával ugyanazt a pontot elemzi.

Kapcsolat
inVia Raman mikroszkóp hibrid rendszer

SPM/AFM: Nanométeres felbontás

Kombinálja az inVia Raman-mikroszkópot pásztázó szondás mikroszkóppal (SPM), pl. atomerő-mikroszkóppal (AFM) a különféle anyagok kémiai és szerkezeti tulajdonságainak vizsgálatához. Bővítse a berendezés képességeit nanométeres kémiai felbontással és a TERS rendszerrel, és ismerjen meg további jellemzőket, pl. mechanikai tulajdonságokat.

További információ

Hibrid Raman rendszer SEM SCA

SEM Raman rendszer

Ruházza fel pásztázó elektronmikroszkópját a Raman-analitikai képességeivel a Renishaw Raman SEM-SCA interfész segítségével. Rögzítsen nagy felbontású képeket a szóban forgó mintáról SEM mikroszkóppal, és végezzen elemi vizsgálatokat röntgennel. Azonosítsa a különféle anyagokat és nemfémes vegyületeket akkor is, ha sztöchiometriai tulajdonságaik megegyeznek.

További információ

Nano-indentációs keménységmérés: mechanikai tulajdonságmérés

Ötvözze az inVia Raman-mikroszkóp teljesítményét a nano-indentációs keménységméréssel, és állapítson meg közvetlen összefüggést a mechanikai és tribológiai tulajdonságok és az olyan kémiai információk között, mint például a kristályosság, polimorfizmus, fázis és feszültség/alakváltozás.

További információ

Hysitron inVia Raman rendszer

Olvassa el a Microscopy and Analysis Journal folyóiratban megjelent cikket

  • Correlative SPM Raman and SEM analysis of biomedical devices and coatings Correlative SPM Raman and SEM analysis of biomedical devices and coatings [en]

    A variety of medical implants and microelectrode arrays for electrophysiology are fabricated in thin film and micro technology. To guarantee the quality, proper functionality and safe operation of these devices, analytical techniques to investigate the structure and chemical composition of surfaces and interfaces during the fabrication process and for final quality control are essential.

Többet szeretne megtudni?

Helyi képviselőnk örömmel segít kérdései megválaszolásában.
Képviselőnkkel egy űrlapot kitöltve vagy e-mail útján léphet kapcsolatba.

Kapcsolat

A legfrissebb hírek

Legyen naprakész legújabb innovációinkkal, híreinkkel, alkalmazásainkkal és induló termékeinkkel kapcsolatban; legfrissebb híreink közvetlenül a postaládájába érkezhetnek.

Feliratkozás