inVia™ konfokális Raman-mikroszkóp
Az alapvető, kutatási minőségű, konfokális Raman-mikroszkóp rendkívüli teljesítményt és a legjobb adatokat biztosítja a legrövidebb idő alatt.
Bár kezelése egyszerű, mégis kiváló teljesítményt és megbízható eredményeket garantál még a legnagyobb kihívást jelentő kísérleteknél is. Segítségével részletgazdag kémiai képeket készíthet, és pontosan behatárolt adatkészleteket gyűjthet diszkrét pontokból. Páratlanul rugalmas használhatósága révén a világon számos kutató és mérnök szavazott már bizalmat az inVia mikroszkópnak.
Funkciók
Az inVia mikroszkóp egy kutatási minőségű mikroszkópot tartalmaz egy magas teljesítményű Raman spektrométerhez kapcsolva. Könnyű működtetni, azonban rendkívüli teljesítményt nyújt – magas jelátviteli sebesség magas spektrális felbontással és stabilitással kombinálva –, megbízható eredményeket biztosít még a leginkább kihívást jelentő mérések esetén is.
Az inVia mikroszkóp igen hatásos optikai tervezése a legjobb Raman adatokat biztosítja, még anyagmaradványokból is. Ha könnyen és megbízhatóan szeretne gazdag, részletes kémiai képeket és igen specifikus adatokat készíteni diszkrét pontokból, akkor az inVia mikroszkóp az ideális rendszer Önnek.
Részletesebb információkért töltse le az inVia mikroszkóp tájékoztatóját.
Gyorsaság és szenzitivitás
A magas szenzitivitás lehetővé teszi a gyenge Raman jelek megtekintését, valamint a gyors elemzést akár anyagmaradványokból, monorétegekből és gyenge szórványokból is. Egy megjelölt, tengely menti optikai tervezést használ, amely magas optikai hatásosságot, a szórt fény kitűnő elvetését és példátlan szenzitivitást biztosít.
Magas térbeli felbontás
Az optikai tervezés lehetővé teszi, hogy nagyon magas szintű konfokalitást érjen el (a vizsgálandó pontoktól távoli régiókból származó jel elvetésének képessége). Ez biztosítja a magas stabilitás elérését és a lehető legnagyobb térbeli felbontást, amelyet kizárólag a fény velejáró elhajlása korlátoz.
Magas spektrális teljesítmény
Képes meghatározni a 0,5 cm-1-nél keskenyebb spektrális funkciókat, így el tudja különíteni a Raman-sávokat és az olyan nagyon hasonló anyagokat, mint a gyógyszerészeti polimorfok. A magas stabilitás lehetővé teszi a Raman-sáv pozíciójában bekövetkező kis elmozdulások monitorozását (akár 0,02 cm-1).
Rendkívüli stabilitás
Egy egyedi tervezésű méhsejt alaplemez a helyén tartja az inVia mikroszkópot és a lézereket, és ez olyan stabil, hogy általában nincs szükség optikai vagy rezgéscsillapító asztalra. A fő mozgatási alkatrészek Renishaw nagy pontosságú kódolókkal vannak felszerelve, ami biztosítja mindennek a megfelelő elhelyezését.
Spektrális rugalmasság
Úgy konfigurálhatja az inVia mikroszkópot, hogy ideális legyen az adott mintái elemzéséhez. Többféle lézert támogat automatizált, számítógép által vezérelt kapcsolással. Gyorsan megváltoztathatja a gerjesztési hullámhosszt, és gyorsan meghatározhatja a legjobb konfigurációkat, hogy minden mintájából megbízható adatokat kapjon.
Mintavételi rugalmasság
Az inVia támogatja a kutatási minőségű függőleges, fordított és nyitott keretes mikroszkópokat, valamint a száloptikás szondákat is hosszú távú, távoli elemzéshez. Számos objektívlencsével és környezeti cellával kompatibilis, ami lehetővé teszi, hogy mintáit számos környezeti körülmény mellett elemezze.
Alkalmazások
Gyógyszerek vizsgálata
Sok alkatrész és tulajdonság esetén az összetétel, a doménméret és a lejárt szabadalmú, kereskedelmi forgalomban kapható formulációk eloszlásának meghatározása rendkívül kívánatos. Az inVia mikroszkóp rendkívüli kémiai specificitást és szenzitivitást biztosít, részletes kémiai képeket generál számos formuláción.
Polimerek vizsgálata
Az inVia Raman-mikroszkóp kémiai specificitást és szenzitivitást biztosít roncsolásmentes módon, a minta manipulálásának és előkészítésének szükségessége nélkül. Ez fontos a polimerek vizsgálatában, ugyanis új anyagokat keresünk, javítjuk a meglévő anyagok hatásosságát, és csökkentjük a termékek költségeit.
Tartsa meg a fókuszt valós
időben a LiveTrack funkcióval
Az inVia mikroszkóp analizátor LiveTrack™ automatizált fókuszkövető technológiát használ, hogy valós idejű, pontos és megismételhető spektrumot és topográfiát kapjon a mintákból átfogó magasságbeli variációkkal. Alkosson lenyűgöző 3D-s képeket egyenetlen, görbe vagy érdes felszínekről előzetes szkennelés szükségessége nélkül. Nézze meg a videót egy példáért.
Többet szeretne megtudni?
Helyi képviselőnk örömmel segít kérdései megválaszolásában.
Képviselőnkkel egy űrlapot kitöltve vagy e-mail útján léphet kapcsolatba.
A legfrissebb hírek
Legyen naprakész legújabb innovációinkkal, híreinkkel, alkalmazásainkkal és induló termékeinkkel kapcsolatban; legfrissebb híreink közvetlenül a postaládájába érkezhetnek.
Letöltések: inVia Raman-mikroszkóp
-
Brochure: inVia confocal Raman microscope [en]
Renishaw inVia: The world's best selling high-performance Raman microscope
-
Product note: Centrus detector [en]
At the heart of Renishaw’s Raman systems, Centrus is more than just a detector; it is key to the implementation of advanced Renishaw technologies
-
Product note: inVia Qontor confocal Raman microscope [en]
The inVia™ Qontor® confocal Raman microscope is a flexible research-grade instrument with unique real-time focus tracking capabilities.
-
Product note: inVia excitation wavelength options [en]
inVia™ Raman microscope: choosing filter and wavelength options
-
Technical note: Polarised Raman spectroscopy using the inVia Raman microscope [en]
This note demonstrates that the inVia confocal Raman microscope is an ideal tool for polarisation studies.
-
Product note: MS30 high speed encoded stage [en]
The MS30 high speed encoded stage is a high performance, optically encoded, motorised sample stage for use with Renishaw’s Raman systems.
-
Product note: Inverted microscopes for inVia [en]
Renishaw's inVia Raman spectrometers can be equipped with inverted microscopes instead of, or in addition to, the standard upright microscopes.
-
Technical note: LiveTrack focus-tracking technology [en]
LiveTrack focus-tracking technology maintains optimum focus for both white light and Raman imaging to give stunning 3D images.
-
Product note: Rayleigh imaging using the inVia™ confocal Raman microscope [en]
Product note detailing how you can perform Rayleigh imaging on the inVia confocal Raman microscope.
-
Product note: Optical tweezing on the inVia™ Qontor® Raman microscope [en]
The inVia Qontor Raman microscope is available with optical tweezing. The microscope focuses the laser to the same point as the Raman laser, so you can both trap microparticles and analyse them using Raman or photoluminescence.
Specifikációk
Az inVia mikroszkóp három modellben áll rendelkezésre; a típus zászlóshajóját képező, teljesen automatizált és fókuszkövetési technológiával ellátott inVia Qontortól a belépő szintű inVia Basis rendszerig.Paraméter | Érték | |
| Hullámhossztartomány | 200 nm – 2200 nm | |
| Támogatott lézerek | 229 nm–1064 nm | |
| Spektrális felbontás | 0,3 cm-1 (FWHM) | Általában szükséges legmagasabb: 1 cm-1 |
| Stabilitás | < ±0,01 cm-1 | A görbére illesztett Si 520 cm-1 sáv középfrekvencia variációi, ismételt mérések után. 1 cm-1 vagy nagyobb spektrális felbontással archiválva |
| Alacsony hullámszám levágási érték | 5 cm-1 | Általában szükséges legalacsonyabb: 100 cm-1 |
| Magas hullámszám levágási érték | 30 000 cm-1 | Standard: 4000 cm-1 |
| Térbeli felbontás (laterális) | 0,25 µm | Standard: 1 µm |
| Térbeli felbontás (axiális) | < 1 µm | Standard: < 2 µm. Az objektív és a lézer függvénye |
| Detektorméret (standard) | 1024 pixel × 256 pixel | Egyéb elérhető opciók |
| Detektor működési hőmérséklet | –70 °C | |
| Támogatott Rayleigh szűrők | Korlátlan | Akár négy szűrőkészlet automatikus rögzítésnél. Korlátlan további szűrőkészletek, amelyeket a felhasználó által kapcsolható, pontosan lokalizáló kinematikus rögzítők támogatnak |
| Támogatott lézerek száma | Korlátlan | Standardként egy. A 4 lézeren túli további lézereket optikai asztalra kell rögzíteni |
| Windows PC által vezérelt | Legutóbbi előírás Windows® PC | Tartalmazza a PC munkaállomást, a monitort, a billentyűzetet és a trackballt |
| Tápfeszültség | 110 V AC – 240 V AC +10% -15% | |
| Tápfrekvencia | 50 Hz vagy 60 Hz | |
| Általános energiafogyasztás (spektrométer) | 150 W | |
| Mélység (kettős lézerrendszerek) | 930 mm | Kettős lézer alaplemez |
| Mélység (tripla lézerrendszerek) | 1116 mm | Tripla lézer alaplemez |
| Mélység (kompakt) | 610 mm | Akár három lézer (a lézertípustól függően) |
| Általános tömeg (a lézerek nélkül) | 90 kg |
Minta megtekintés | inVia Basis | inVia Reflex | inVia Qontor |
| Sztereo megtekintés (binokuláris mikroszkópok) | ■ | ▲ | ▲ |
| Tárolt és automatikus gyűjtést követő megtekintés | - | ▲ | ▲ |
| Szoftveres mikroszkópvezérlés | - | ▲ | ▲ |
| Automatikus fehér fény/Raman váltás | - | ▲ | ▲ |
| Automatikus fehér fény mentés adatokkal | - | ▲ | ▲ |
| Kombinált fehér fényű és lézeres videó megtekintés | - | ▲ | ▲ |
| Fehér fényű automatikus fókusz (LiveTrack) | - | - | ▲ |
Raman adatgyűjtés | inVia Basis | inVia Reflex | inVia Qontor |
| Mérések automatizált sorbaállítása | ▲ | ▲ | ▲ |
| Automatikus fókuszkövetés (LiveTrack) | - | - | ▲ |
Beállítás és teljesítményellenőrzés | inVia Basis | inVia Reflex | inVia Qontor |
| Belső neon hullámhossz kalibrációs forrás | - | ▲ | ▲ |
| Belső referencia etalonok önkalibráláshoz | - | ▲ | ▲ |
| Automatikus Raman kalibrálás korrekció (gyors kalibrálás) | ▲ | ▲ | ▲ |
| Lézeres automatikus beállítás | ▲ | ▲ | ▲ |
| Raman jelalapú automatikus beállítás | ▲ | ▲ | ▲ |
| Teljesítmény-ellenőrzés | - | ▲ | ▲ |
Jelmagyarázat
| - nem elérhető | ■ opció | ▲ tartalmazza |